Les interfaces DDR et LPDDR haut débit fonctionnent sous des contraintes de synchronisation et de tension de plus en plus strictes. Les variations de processus, les fluctuations de tension, la température, la gigue, le bruit et les effets de canal peuvent tous nuire à la fiabilité de la mémoire et compliquer considérablement les processus de validation des PHY.
La solution de caractérisation DDR PHY VREF répond à ces défis en automatisant la caractérisation du récepteur grâce à des balayages contrôlés de la tension de référence (VREF) et du délai d'échantillonnage. Elle permet aux équipes d’ingénierie de générer des diagrammes « read-eye » DDR, de quantifier les marges disponibles, d’identifier les bits sous-performants et de déterminer le point de fonctionnement optimal du PHY. Spécialement conçue pour les interfaces DDR et LPDDR modernes, cette solution fournit des informations exploitables sur les marges au niveau des canaux, des rangs, des voies d’octets et des bits DQ individuels, permettant ainsi aux équipes d’améliorer la fiabilité, de réduire le temps de débogage et d’optimiser les performances en lecture.
Cette solution prend en charge le développement de circuits PHY DDR, la mise en service des puces, la caractérisation PVT, la qualification des produits, le contrôle qualité en fabrication et l'analyse des défaillances.
1. Mise en service de la puce : identifie les problèmes liés à la synchronisation, à la tension et à la marge du récepteur lors de la validation de la première puce.
2. Développement de la couche physique (PHY) DDR : prend en charge le réglage du récepteur, l'évaluation de l'apprentissage de la lecture et l'optimisation des performances de la couche physique (PHY).
3. Caractérisation PVT : évalue le comportement en lecture de la mémoire DDR en fonction du procédé de fabrication, de la tension et de la température.
4. Qualification des produits : permet d'obtenir des données de caractérisation reproductibles pour la validation au niveau de la conception et au niveau du système.
5. Fabrication et contrôle : Évalue les marges de production et identifie les appareils ou les configurations fonctionnant à proximité des limites définies.
6. Analyse des défaillances : examine les bits faibles, la sensibilité à la gigue, les problèmes d'intégrité du signal et la dégradation des marges.
En fonction de la mission et de la plateforme cible, les livrables peuvent inclure :
La fiche technique de la solution fournit des informations détaillées sur les sorties prises en charge, les indicateurs de performance, les options de modèles de test et les paramètres de caractérisation.
La caractérisation DDR PHY VREF évalue les performances du récepteur en faisant varier les paramètres de référence de tension et de retard d'échantillonnage sur toute la fenêtre de lecture DDR. Elle permet de déterminer la largeur et la hauteur de l'œil, la marge de synchronisation, la marge de tension ainsi que le point de fonctionnement optimal du récepteur.
Une interface DDR peut réussir les tests fonctionnels de base tout en fonctionnant avec une marge de temps ou de tension limitée. La caractérisation « read-eye » indique l'ampleur de la marge de fonctionnement disponible et permet d'identifier les conditions de fonctionnement fragiles ou limites avant le lancement de la production.
Cette solution prend en charge les normes DDR4, DDR5, LPDDR4, LPDDR4X, LPDDR5, LPDDR5X ainsi que les implémentations personnalisées de PHY DDR.
La solution mesure des paramètres tels que la largeur de l'œil, la hauteur de l'œil, le centre de l'œil, la marge de synchronisation, la marge de tension, la meilleure tension de référence (VREF), le meilleur retard, la surface de l'œil, le comportement du taux d'erreur binaire (BER) et la marge par bit.
Oui. La caractérisation peut être effectuée aux niveaux PHY, canal, rang, voie d'octets, groupe DQS et bit DQ individuel, ce qui aide les ingénieurs à identifier les zones faibles ou marginales.
Oui. Il permet d'évaluer le comportement du circuit PHY DDR dans différentes conditions de procédé, de tension et de température.
Oui. Cette solution permet d'identifier les problèmes liés à la synchronisation, à la tension, à l'étalonnage et aux marges lors de la validation du premier échantillon de silicium.
Oui. La solution permet de générer des documents techniques consolidés et d'exporter des données dans des formats tels que CSV, Excel, PDF et HTML.
Oui. Le cadre de caractérisation peut être adapté à des architectures PHY, des interfaces de registres, des flux de test et des exigences en matière de rapports spécifiques.
Il automatise les étapes clés telles que la configuration PHY, les balayages VREF et de retard, l'exécution des lectures, la capture de données, l'analyse des erreurs, la génération de courbes « eye », l'extraction de métriques et la génération de rapports.
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